GAIA 超分辨率点重扫共聚焦显微镜
基于专利的重扫描技术,仅需几纳瓦功率即可实现深度组织超分辨率成像的共聚焦系统。

得益于专利的 REscan 技术,GAIA 超分辨率的实时分辨率可达 170 nm,解卷积后可达 120 nm。

搭配 6 个电动可变针孔,使得设备在各种物镜下均可达到完美共焦

仅需几纳瓦的功率即可实现超越衍射极限的深度成像,成像温和,适合长时间活细胞超分辨率成像。
| GAIA | α | λ |
| FOV | 18 mm(FN 18);330x330 μm(40x 物镜) | |
| 实时分辨率 | 170 nm(解卷积 120 nm) | |
| 扫描速度 | 3 fps @ 512 x 512 px,30 fps @ 256 x 256 px | |
| 波长 | 400-1100 nm(VIS + NIR) | |
| 探测器 | sCMOS | |
| 探测器灵敏度 | >95% QE | |
| 软件 | Micromanager,如有集成需求,可提供软件开发工具包 | |
| 解卷积 | Microvolution(实时); SVI Huygens(后处理) | |
| 模式 | 明场,宽场和超分辨率 | |
| 针孔 | 固定 | 可调 |
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